Optimization of a 65 nm CMOS Imaging Technology for Monolithic Sensors in High Energy Physics
W. Snoeys*, G. Aglieri Rinella, A. Andronic, M. Antonelli, R. Baccomi, R. Ballabriga Sune,
M. Barbero, P. Barrillon, J. Baudot, P. Becht, F. Benotto, S. Beolé, G. Bertolone, A. Besson, W. Bialas, G. Borghello, J. Braach, M.D. Buckland, S. Bugiel, E. Buschmann, P. Camerini, M. Campbell, F. Carnesecchi, L. Cecconi, E. Charbon, A. Chauhan, C. Colledani, G. Contin, D. Dannheim, K. Dort, J.P. de Melo, W. Deng, G. De Robertis, A. Di Mauro, A. Dorda Martin, A. Dorokhov, P. Dorosz, G. Eberwein, Z. El Bitar, X. Fang, A. Fenigstein, C. Ferrero, D. Fougeron, D. Gajanana, M. Goffe, L. Gonella, A. Grelli, V. Gromov, A. Habib, A. Haim, K. Hansen, J. Hasenbichler, H. Hillemanns, G.H. Hong, C. Hu, A. Isakov, K. Jaaskelainen, A. Junique, A. Kotliarov, I. Kremastiotis, F. Krizek, A. Kluge, R. Kluit, G. Kucharska, T. Kugathasan, Y. Kwon, P. La Rocca, L. Lautner, P.V. Leitao, B.h. Lim, F. Loddo, M. Mager, D. Marras, P. Martinengo, S. Masciocchi, S. Mathew, M.W. Menzel, F. Morel, B. Mulyanto, M. Münker, L. Musa, M. Nakamura, P. Pangaud, S. Perciballi, H. Pham, F. Piro, F. Prino, S. Rachevski, K. Rebane, C. Reckleben, F. Reidt, R. Ricci, R. Russo, I. Sanna, V. Sarritzu, U. Savino, D. Schledewitz, I. Sedgwick, H.K. Soltveit, S. Senyukov, J. Sonneveld, J. Soudier, J. Stachel, M. Suzuki, P. Svihra, M. Suljic, N. Takahashi, G. Termo, N. Tiltmann, E. Toledano, A. Triffiro, A. Turcato, G. Usai, I. Valin, A. Villani, J.B. Van Beelen, M.D. Vassilev, C. Vernieri, A. Vitkovskiy, Y. Wu, A. Yelkenci and A. Yuncuet al. (click to show)
Pre-published on:
March 13, 2023
Published on:
—